Ключевые слова: patents, magnets, experimental devices, NMR magnet, YBCO, HTS, coils, persistent current mode, design, resonance effects
Ключевые слова: HTS, REBCO, bulk, doping effect, critical caracteristics, Jc/B curves, temperature dependence, pinning force, experimental results
Ключевые слова: HTS, REBCO, bulk, seeding technique, fabrication, trapped field distribution, critical caracteristics, Jc/B curves, fabrication
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, mechanical properties, fracture behavior, microstructure, fabrication, laminations, delamination
Ключевые слова: HTS, REBCO, bulk, nanodoping, pinning, critical caracteristics, Jc/B curves, pinning force, experimental results
Ключевые слова: HTS, bulk, YBCO, disks, ac losses, trapped field, thermal performance, experimental results, magnetic properties
Ключевые слова: HTS, bulk, actuators, levitation performance, design parameters
Murakami M., Sawa K., Tomita M., Hirabayashi I., Sakai N., Fujita H.(h-fujit@sum.sd.keio.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, contact characteristics, current-voltage characteristics, experimental results, critical caracteristics
Murakami M., Tomita M., Hirabayashi I., Sakai N., Fujita H.(h-fujit@sum.sd.keio.ac.jp), Sawa K.(sawa@sd.keio.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, bulk, YBCO, contact characteristics, deformation, dc performance, switches, experimental results
Murakami M., Sawa K., Tomita M., Hirabayashi I., Sakai N., Imaizumi T.(imataku@sum.sd.keio.ac.jp)
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, mechanical properties, bending process, measurement technique, experimental results
Murakami M., Sawa K., Tomita M., Hirabayashi I., Yamamoto N.(yamamoto@2002.jukuin.keio.ac.jp), Imaizumi T.
Ключевые слова: switches, HTS, YBCO, bulk, interfaces, contact characteristics, experimental results
Murakami M., Sawa K., Tomita M., Hirabayashi I., Imaizumi T.(imataku@sum.sd.keio.ac.jp), Yamamoto N.
Ключевые слова: switches, HTS, YBCO, bulk, interfaces, contact characteristics, current distribution, temperature distribution, experimental results, numerical analysis
Tsukamoto O., Ogawa J., Murakami M., Tomita M., Zushi Y., Asaba I., Yamagishi K.(kazu@tsukalab.dnj.ynu.ac.jp)
Koshizuka N.(koshizuka@istec.or.jp), Ishikawa F., Nasu H., Murakami M., Matsunaga K., Saito S., Tomita M., Maeda T., Yamachi N., Kawaji A., Hirabayashi H., Une S., Isono M.
Koshizuka N.(koshizuka@istec.or.jp), Ishikawa F., Nasu H., Murakami M., Matsunaga K., Saito S., Saito O., Nakamura Y., Yamamoto H., Takahata R., Itoh Y., Ikezawa H., Tomita M. .
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.